Rilievo di spessore
Il Laboratorio è dotato di uno strumento a fluorescenza di raggi X Bowman serie P,
con rilevatore a stato solido. La spettroscopia XRF (X Ray Fluorescence) è una tecnica di analisi
chimico-fisica basata sull’analisi dell’emissione di Fluorescenza a Raggi X
che permette l’analisi di un campione da un punto di vista qualitativo e quantitativo.
Il Bowman serie P è in grado di analizzare fino a 4 spessori di rivestimento galvanico.